成都信息工程大学
_2018 _年硕士研究生入学考试自命题科目
考试大纲:
考试阶段:复试 科目满分值:100
考试科目:集成电路工艺 科目代码:
考试方式:闭卷笔试 考试时长:180 分钟
一、科目的总体要求
主要考察学生对《集成电路工艺》课程中基本知识、原理以及技
能的掌握情况,並具有一定工艺分析和设计以及解决工艺问题和提高
产品质量的能力。
二、考核内容与考核要求
《集成电路工艺》共包含 6 个部分的内容:硅和硅片制备,氧化
与淀积工艺,光刻工艺,刻蚀工艺,离子注入工艺,金属化工艺。
(一)第一部分 硅和硅片制备
1、(掌握)硅圆片制备及规格;
2、(掌握)晶体缺陷、半导体制造中的污染控制与缺陷检测。
(二)第二部分 氧化与淀积工艺
1、(掌握)SiO2 结构及性质,硅的热氧化及影响氧化速率的
因素及氧化缺陷;
2、(掌握)化学气相淀积薄膜及技术的分类;
3、(了解)化学汽相淀积(CVD)基本化学过程,各种不同
材料、不同模式 CVD 方法系统原理、工艺与主要设备。
(三)第三部分 光刻工艺
1、(掌握)光刻工艺的原理、方法和流程;
2、(了解)掩膜版的制造,光刻技术分类;
3、(掌握)光刻工艺的 8 个基本步骤,光源及光学设备,对准及
主要曝光方式;
4、(了解)光刻缺陷控制和检测以及光刻工艺技术的最新动态。
(四)第四部分 刻蚀工艺
1、(掌握)刻蚀分类(湿法刻蚀、干法刻蚀)及应用;
2、(掌握)干法刻蚀系统,半导体生产中常用材料的刻蚀技术。
(五)第五部分 离子注入工艺
1、(掌握)离子注入原理、特点及应用;了解离子注入系统组成;
2、(掌握)离子注入浓度分布,注入损伤和退火。
(六)第六部分 金属化工艺
1、(掌握)溅射、蒸发原理;
2、(掌握)金属化系统组成,形貌及台阶覆盖问题的解决方案;
3、(了解)ULSI 的多层布线技术对金属性能的基本要求。
三、题型结构
考试满分 100 分,包含多种题型,有填空、选择、是非、问答和
综合分析题型。