2017年哈尔滨理工大学834光电子技术考研大纲

《光电子技术》考试大纲
适用专业名称：085202 光学工程
科目代码及名称 考试大纲
834 光电子技术 一、 考试目的与要求
测试考生对光电子技术所涉及的基本概念、基本理论、基本技术和基本器件的理解和掌握的程度，以及运用它们分析解决实际问题的能力和综合
运用能力。考生应掌握辐射度学与光度学、光辐射的传播、光束的调制和扫描、光电探测及成像技术、光电显示技术等的基本概念及基本技术，对光
电子技术有比较全面、系统的认识和了解。
二、 试卷结构（满分 150 分）
内容比例：
1．光辐射与发光源 约10%
2．光辐射的传播 约 10%
3．光束的调制和扫描 约 20%
4．光辐射的探测技术 约 20%
5．光电成像系统 约 20%
6．光电子技术应用实例 约 20%
题型比例：
1．简答题 约40%
2．计算题 约60%
三、考试内容与要求
（一）光辐射与发光源
1. 掌握光辐射的基本定律，包括基尔霍夫辐射定律、普朗克定律、瑞利-琼斯公式、维恩公式和斯忒潘-玻尔兹曼定律；
2．掌握激光原理，以及常见激光器的结构与原理，包括固体激光器、气体激光器和半导体二极管激光器。
（二）光辐射的传播
1. 掌握光辐射的电磁理论；
2. 掌握光波在大气、电光晶体、声光晶体、磁光介质、光纤波导、非线性介质和水中的传播特性，以及相应的分析方法。
（三）光束的调制和扫描
1. 掌握光束调制原理，包括电光调制、声光调制、磁光调制和直接调制的原理、实现方法和特点及应用；
2. 熟练掌握光束扫描的原理，包括机械扫描、声光扫描、电光扫描的原理和实现方法和器件结构；
3. 了解空间调制器的原理、特点和应用。
（四）光辐射的探测技术
1. 熟练掌握光电探测器的物理效应；
2. 掌握常用光电探测器的基本特性；
3. 了解光电探测器的性能参数。
（五）光电成像系统
1. 熟练掌握固体摄像器件的基本原理、光电成像系统的基本结构及红外成像系统的综合特性评价；
2. 掌握固体摄像器件的特性参数、红外成像光学系统的基本原理；
3. 了解固体摄像器件的发展水平及微光像增强器件的基本原理。
（六）光电子技术应用实例
1．掌握光电子技术应用系统的工作原理；
2．了解光电子技术应用系统的基本构成。
参考书目：
安毓英等，光电子技术（第二版），电子工业出版社，2007 年