2018年复旦大学853光电测试技术及自动控制原理考研大纲
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2018年复旦大学853光电测试技术及自动控制原理考研大纲

《光电测试及自动控制原理》考试大纲 第 1 页 共 3 页
信息学院研究生入学考试
光电测试技术及自动控制原理考试大纲
自控部分总分:100 分,光电测试部分总分: 50 分
基本内容及基本要求
一、自动控制部分:
题型:计算题
第一章 自动控制概论
1. 自动控制系统的基本概念、组成及分类
2. 对控制系统的基本要求
3.控制系统原理方块图
基本要求:了解自动控制的基本概念,分类。掌握控制系统的组成及各组成的作用,能根据
实际系统的工作原理画控制系统的方块图。
第二章 控制系统的数学模型
1. 控制系统微分方程的建立,拉氏变换求解微分方程
2. 传递函数的概念、定义和性质
3. 结构图的概念和等效变换
4. 信号流图的概念、信号流图与结构图的关系
5. 梅逊公式
基本要求:了解线性定常控制系统的几种模型,以及它们之间的区别。了解控制系统微分方
程的建立,以及通过拉氏变化求解微分方程。准确掌握传递函数的概念,以及系统中开环传
递函数和闭环传递函数的概念,能根据微分方程组或者方框图求解传递函数掌握。掌握方框
图、信号流图的等效变化和化简。掌握梅逊公式。
重点掌握典型环节传递函数和闭环传递函数的求法,以及梅逊公式的应用。
第三章 控制系统的时域分析
1. 系统动态性能指标的定义
2. 一阶系统的动态性能分析,典型二阶系统的阶跃相应及动态性能指标
3. 稳定性的概念,系统稳定的充要条件及劳斯判据
4. 稳态误差的定义,误差传递函数,系统类型的定义、静态误差系数的定义及计算方法,
利用静态误差系数计算系统的静态误差
5. 附加闭环零极点对系统动态性能的影响
6. 主导极点的概念,及用此概念分析高阶系统
基本要求:了解对于线性定常连续系统的在时域上的分析的一般过程,典型输入信号的拉氏
变换。一阶系统的过渡过程,掌握二阶系统的过渡过程和高阶系统的过渡过程,控制系统的
稳定性分析,以及控制系统稳态误差的计算方法。掌握消除和减少稳态误差的办法以及了解
用复合控制怎样可以减少系统的稳态误差,提高系统的精度的原理。
重点掌握①时域上描述系统动态性能的特性指标δ%、ts。②劳斯判据判断系统的稳定性。
③稳定误差计算以及减少标志误差,提高控制精度的办法。
《光电测试及自动控制原理》考试大纲 第 2 页 共 3 页
第四章 根轨迹法
1. 根轨迹的概念,根轨迹方程,幅值条件和相角条件
2.绘制根轨迹的基本规则
3. 非最小相位系统的根轨迹及正反馈系统的根轨迹的绘制
4. 等效开环传递函数的概念,参数根轨迹
5.用根轨迹分析系统的性能
基本要求:了解控制系统根轨迹的概念,一般解析画法过程。用根轨迹法分析控制系统的思
路。
掌握绘制根轨迹的基本规则,并利用基本规则概要画出给定系统的根轨迹。并在此基础上用
根轨迹法来分析系统的稳定性,动态性能的好坏和闭环主导极点在 S 平面上分布的关系。并
掌握最小相位系统的参数根轨迹的画法。掌握闭环极点,零点分布和控制系统性能指标之间
的关系。
重点掌握根轨迹的画法,参数根轨迹的画法,并学会用根轨迹的方法来分析控制系统,附加
开环零极点对系统根轨迹的改造和对系统性能的影响。
第五章 控制系统的频域分析
1. 频率特性的定义,幅频特性与相频特性
2. 典型环节的频率特性
3. 开环系统奈奎斯特图的画法
4. 开环系统对数频率特性图(Bode 图)的画法,由 Bode 图求最小相位系统的开环传递函

5. 奈奎斯特稳定判据,由对数频率特性判断系统的稳定性
6. 稳定裕量,幅值裕量和相位裕量的定义及计算
7. 闭环频率特性的 有关指标及近似估算
8. 频域指标与时域指标的关系
基本要求:了解一个系统和一个环节的频率特性并得出系统的正弦传递函数。了解频率特性
的表示方法幅相曲线和波特图,并学会画一个典型环节的频率特性(幅相曲线和 Bode 图)。
了解闭环频率特性图的画法。掌握系统开环传递函数的幅相曲线和 Bode 图,并在此基础上
利用系统的幅相曲线和 Bode 图来分析系统的稳定性──奈氏判据,用幅数曲线和 Bode 图来
分析系统的动态性能──控制系统的相对稳定性。
掌握开环频率特性与控制系统性能的关系。
重点掌握用频率特性的方法来分析系统的稳定性,以及相对稳定性以及开环频率特性与控制
系统性能指标间的关系。
第六章 控制系统的综合与校正
1. 校正的基本概念,校正的方式,常用校正装置的特性
2. 设计校正装置,用频率法确定串联超前校正、滞后校正和滞后-超前校正装置的参数
3. 设计最小相位系统的校正装置
4. 了解反馈校正和复合校正的基本思路与方法
基本要求:了解系统为什么需要校正,采用校正方式和方法的分类。并结合前面第三章、四
章、五章对系统的分析的情况来分析控制系统的基本控制规律。
掌握串联校正中的超前校正的综合过程,滞后校正的综合过程以及滞后──超前校正的综合
过程,以及按系统的期望频率特性进行校正的综合过程,采用反馈校正参数的确定。
重点掌握:超前校正,滞后校正,滞后──超前校正的校正网络传递函数中零极点在 S 平面
上分布情况以及参数结构是怎样对校正起作用的,串联校正和并联校正间的关系。
《光电测试及自动控制原理》考试大纲 第 3 页 共 3 页
二、光电测试部分:
题型: 选择题,简答题,测量原理方法题,计算题
一、光度学、色度学的基本知识
1. 光度学的基本物理量
2. 光度学的基本定律
3.几种主要的色度学系统及色度学基本物理量
基本要求:了解掌握光度学的基本物理量的定义、测试方法,光度学的基本定律;几种主要
的色度系统,色度学的基本物理量。
二、光电测试中的常用光学系统
1.显微镜、望远镜、投影系统的基本结构与特点
2. 光学系统中常用的照明方式
基本要求:了解掌握三种常用光学系统包括显微镜、望远镜、投影仪的基本结构,各自的光
路特点,以及这几种光学系统中照明方式。
三、光电测试常用器件
1.光电技术及光电器件基础
2. 光电发射器件
3.半导体光电子器件
4.热释电器件
5.光电成像器件
6. 光电检测电路
基本要求:了解掌握光电器件的基本物理特性与参数,半导体光电子器件,光电倍增管,光
电成像器件、热释电器件等的工作原理和特性,以及相应的检测电路。
四、光源与照明的基本知识
1. 光源的基本参数;
2. 热辐射光源的基本原理与特性;
3. 气体放电光源的基本原理与特性;
4. LED 的基本原理与特性;
5. LED 照明系统的关键技术
6. 照明的基本知识
基本要求:了解掌握光源的主要特性及其测试方法;几种主要光源的特性,应用电路。室内
外照明的基本特点、照明的基本物理量、照明设计的基本计算方法。

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