1
2018 年
武汉工程大学硕士研究生入学考试
《光电探测与信号处理》考试大纲
一． 参考教材：
1、安毓英主编：《光电子技术》，电子工业出版社， 2008 版
2、叶嘉雄，常大定等编著：《光电系统与信号处理》，科学出版社，1997
年版
（备注：以 1 为主，2 为辅。）
二． 考试方法、考试时间
闭卷考试，试卷满分 150 分。考试时间 180 分钟
三． 试题形式
基本概念 约占 20%
理论理解分析 约占 30%
应用 约占 50%
试题一般由选择题、填空题、应用计算题组成。
四． 考试内容及要求
《光电探测与信号处理》是光电技术方向的专业基础理论课程，它主要研究
光电器件的工作原理、性能以及各种实际的应用，同时对光电系统的设计基础（即
光电信号处理）有着基本的要求。要求考生熟悉和掌握光电转换的基本理论和应
用，要准确掌握各种探测器的基本原理与性能参数，对探测技术能熟练应用。对
成像技术、显示技术的各种原理有深入的了解，能应用原理分析具体器件的性能。
通过考试要体现出考生的探测及显示技术方面的理论基础和综合素质。因此参加
该门课程考试的考生须掌握如下内容：
1. 光辐射、发光源与光传播基本定律
1）辐射度学、光度学的基本知识与基本定律
2）典型的激光器
2. 光束的调制和扫描
1）调制的基本原理、分类
2）电光调制
3）了解声光调制、磁光调制
2
3. 光辐射的探测技术
1）光电探测的物理学基础
2）光电导探测器
3）光电子发射探测器（PMT）
4）光伏探测器（光电二极管、光电三极管、PIN 管、APD）
5）热电效应探测器（热回路方程、热电偶、热电堆、测辐射热计、热释
电效应探测器）
6）光频外差探测技术
4. 光电成像系统
1）光电成像原理、主要性能参量
2）真空摄像管
3）CCD 固体成像器件工作原理、性能分析、器件结构
4）CMOS 固体成像器件工作原理、结构、性能分析
5）了解图像增强器
5．显示技术
1）显示技术基础（亮度、颜色、视觉、色度坐标）
2）液晶显示技术（液晶材料的微观结构特点、分类、特性，液晶显示器
件的结构、工作原理、性能分析）
3）等离子显示技术（工作原理、器件结构、性能分析）
4）了解阴极射线管、电致发光显示技术
6. 光电信号处理
1）光电系统噪声分析
2）偏置电路
3）放大电路
4）弱信号检测
您现在的位置： 